2-5 GCS-XW 激光偏振综合实验

2-4 GCS-CH-II 连续空间频率传递函数测量实验

上一个:

下一个:

2-6 GCS-SLM 空间光调制器参数测量与创新应用实验

本实验为偏振光学的基础实验,包括偏振光的产生、检验以及特性的研究和重要的应用。内容涉及调制偏振光、波片特性研究、相位延迟测量等多方面的知识。可作为光电、光信息、光学工程、光电检测等专业的本科或研究生教学,也可作为科研部件应用。

调制偏振光在光学精密测量和光学信息传递中具有重要的应用价值,光学相位延迟测量系统的研究,可用于光学延迟器的相位延迟,也可以用于产生任意的光学相位延迟量。



知识点

偏振光理论、波片、相位补偿、电光调制、光学相位延迟、光学测量

涉及课程

物理光学、非线性光学、光电检测

实验内容:

偏振光的产生与检验

马吕斯定律的验证

标定索列尔-巴比涅相位补偿器

利用索列尔-巴比涅相位补偿器测量待测器件的相位延迟 

了解KD*P晶体的纵向电光效应,并观察会聚偏振光干涉图样

观测电光晶体在调制状态下的倍频输出

利用调制偏振光测量待测器件的相位延迟

实验原理:

   L是光源,P为起偏器,E为电光调制晶体,通过调制信号源M加上调制信号。S为待测波片,CSoleil-Barbinet补偿器,A为检偏器,出射光由光探测器D接收,并经过滤波放大等处理后,最终结果显示在示波器O上。系统的坐标方向规定为:光束传播方向为z轴,起偏器的透振方向沿x轴、检偏器的透振方向沿y轴,电光调制器加电压后的感生轴方向和待测波片及补偿器的快慢轴方向一致,和x轴成45°角。


原理示意图:


 

        

 

            晶体的会聚偏振光干涉实验原理示意图

 

  

 

             波片相位延迟测量实验原理示意图


  实验效果图:

          

         晶体的会聚偏振光干涉效果图

                           

             波片相位延迟测量效果图

技术指标:

光源:半导体激光器450nm,出光功率大于20mW;半导体激光器520nm,功率大于20mW;氦氖激光器632.8nm,功率≥2mWTEM00,安全双开关(钥匙保护开关、船型开关),安全保护高压插头;

索列尔-巴比涅相位补偿器适用波长:400~1000nm;调整相位范围:0~2π;通光口径:10mm;相位精度:λ/300;相位稳定性:λ/400;测微丝杆位移精度:0.001mm,测微丝杆位移行程: 25mm度盘精度:2′度盘旋转范围: 360°;

光电探测器:探测器类型Si,可测波长500-900nm,灵敏度0.33mV/uW;

电光调制器组件:KD*P晶体调制器,环形电极,最小分辨率0.001uW,调制频率2KHz;

偏振片:Φ25.4mm,通光孔径22mm,厚度2mm,波长范围400-700nm;视场角>±45°,入射光为平行偏振光时单个偏振片透过率大于50%,消光比500:1,含镜架

波片:石英晶体材料,λ=632.8nm,Φ25.4mm,厚度1mm±0.1,延迟精度λ/100

精密机械调整架:角度精度±4′,分辨率0.005mm,调节机构保证等双轴等高,横向偏差1′,纵向偏差1′;

光学元件:BK7 A级精密退火材料,焦距±2%,直径-0.2mm,中心偏差3′,光圈1-5;局部误差0.2-0.5,面粗糙度60/40(Scratch/Dig),氟化镁增透膜镀膜,有效孔径90%;

设备成套性:

固体激光器、索列尔-巴比涅补偿器、电光调制晶体、电光晶体信号源、起偏器、检偏器、光电探测器

必备设备:

示波器

选配清单:

    光学平台、光学清洁箱、光学储存干燥箱、实验设备展板

建议课时:

    4课时


全部评论()

本网站由阿里云提供云计算及安全服务 Powered by CloudDream